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直讀光譜儀中描跡的作用
發(fā)布時(shí)間:2020-07-29 09:27:10 點(diǎn)擊:4384
描跡,這個(gè)詞語(yǔ),似乎有點(diǎn)久遠(yuǎn),早些年使用PMT作為檢測(cè)器的直讀光譜儀會(huì)涉及到描跡的操作,然而,在目前大多數(shù)使用CCD/CMOS作為檢測(cè)器的全譜直讀光譜儀而言,描跡是不用操作員操作的。下面為大家?guī)?lái)關(guān)于描跡的相關(guān)知識(shí)。
通常所講的光譜儀光源是指為產(chǎn)生火花提供能量的電子系統(tǒng)。就是光源控制板、光源板、點(diǎn)火板的總和。嚴(yán)格來(lái)說(shuō)真正的光源應(yīng)該是火花放電產(chǎn)生的火花,它的作用是將金屬樣品熔融蒸發(fā)、原子化、激發(fā)。
火花是在氬氣氣氛中的高壓放電,電弧可在空氣氣氛中進(jìn)行放電?;鸹ㄖ弊x光譜的第一步預(yù)燃,第二步第三步也是火花,只是火花放電參數(shù)設(shè)置不同,具體說(shuō)就是放電能量不同
光譜儀的描跡是調(diào)整入射狹縫的最佳位置,目的是從光源發(fā)射的光譜經(jīng)過(guò)狹縫到達(dá)檢測(cè)器的信號(hào)最大化。
由于溫度的變化及其它因素的影響,可能引起譜線(xiàn)飄移,為保證譜線(xiàn)和出射狹縫穩(wěn)定重合,應(yīng)定期用描跡的方法進(jìn)行調(diào)整,使所有出射狹縫調(diào)整到較理想的位置上。通過(guò)描跡,確定波峰的位置是否正確。
描跡的方法是轉(zhuǎn)動(dòng)人射狹縫的手輪,描跡一條譜線(xiàn),找出其峰值的位置,然后將手輪轉(zhuǎn)到該峰值的位置,使各個(gè)分析元素譜線(xiàn)對(duì)準(zhǔn)各自的出射狹縫。通過(guò)入射狹縫的水平位移,達(dá)到入射角度的變化,從而達(dá)到出射光譜水平位移的目的。
某品牌的PMT直讀光譜儀
在直讀光譜分析中的描跡,主要是確定入射狹縫的位置;根據(jù)生產(chǎn)廠家的規(guī)定,一般把鐵和汞線(xiàn)當(dāng)作描跡譜線(xiàn)。描跡的過(guò)程也可用計(jì)算機(jī)去完成。
另外,什么時(shí)候需要進(jìn)行描跡:(1)長(zhǎng)期停電和突然斷電;(2)溫控出現(xiàn)故障;(3)清完火花臺(tái)和擦完透鏡;(4)每一周做一次或按使用狀況設(shè)定。
以上就是創(chuàng)想小編為大家?guī)?lái)的關(guān)于描跡的相關(guān)內(nèi)容。上一篇:直讀光譜儀的檢測(cè)器問(wèn)題三大誤解 下一篇:光電直讀光譜儀預(yù)燃重要性